National Semiconductor Corporation

Industry: Semiconductors

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Company Profile:

National Semiconductor Corporation designs, develops, manufactures, and markets analog and mixed-signal integrated circuits and sub-systems.

失敗的設備驗證報告的失敗和識別模式或破壞機制的目的的屍體檢驗。失效分析技術的範圍可以從簡單的電氣和/或視覺檢查一些化學與物理、冶金、更高級的技術。

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計算出的速率在哪個設備（通常表示的幾千小時 %或每單位 106 小時的設備）的總設備群體內會出現故障。

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功能（通常與內置測試關聯），允許識別的故障的子電路或電路內複雜的設備。

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最小可控維度的死亡，通常由最小線寬來確定表面上。

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長絲高熱或電壓應力，一起做空兩個領域的結果作為兩個導電地區之間的經濟增長。

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功能區的薄套裝軟體會導致出來相對兩邊的包。(見還底部釺焊平)。

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飛鉛

在扁包設備上，退出結束，而不是套裝軟體，一邊從鉛然後使右角輪到其他的潛在顧客的並行。

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應用的 voltage(s) 或 current(s) 參數或功能的測試執行點。

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是外國微電路或任何非外國的資料，即從其原來的或預期的位置，微電路封裝內流離失所者的任何材料。

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通過熔化和玻璃密封環（或熔塊） re-hardening 包基與蓋之間的密封。包線索通常通過密封區。

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